1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 6(131)'2015
  5. Оцінка невизначеності вимірювань діаметру частинок SiO2 методом електронної мікроскопії при формуванні структурованих матеріалів

Оцінка невизначеності вимірювань діаметру частинок SiO2 методом електронної мікроскопії при формуванні структурованих матеріалів

І. Г. Каюн, О. П. Мисов, С. Г. Калашніков
Системи обробки інформації. — 2015. — № 6(131). — С. 92-94.
УДК 661.682
Мова статті: українська
Анотації на мовах:

Проаналізовано публікації по невизначеності вимірювань лінійних розмірів растровим електронним мікроскопом. Проведена оцінка невизначеності вимірювань діаметру частинок SіO2 методом електронної мікроскопії Проаналізовані джерела невизначеності характерні для даного методу дослідження. Встановлено, що визначальним впливаючим фактором на невизначеність вимірювання є інструментальна складова. Показано особливості обробки мікрофотографій для визначення характеристик структурованого матеріалу: розмірів частинок, закон їх розподіл за діаметрами, дефектність структури.
Ключові слова: невизначеність вимірювання, фотонні кристали, растровий електронний мікроскоп, закон розподілу частинок, структуровані матеріали
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Каюн І. Г. Оцінка невизначеності вимірювань діаметру частинок SiO2 методом електронної мікроскопії при формуванні структурованих матеріалів / І. Г. Каюн, О. П. Мисов, С. Г. Калашніков  // Системи обробки інформації. — 2015. — № 6. — С. 92-94.