1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 2(69)'2008
  5. Повышение эффективности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводник, в миллиметровом диапазоне длин волн

Повышение эффективности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводник, в миллиметровом диапазоне длин волн

В.И. Карпенко, Г.А. Моисеева
Системи обробки інформації. — 2008. — № 2(69). — С. 63-64.
УДК 621.373 (043.3)
Мова статті: російська
Анотації на мовах:

Проведен анализ комплексного коэффициента отражения многослойной структуры, содержащей полупроводниковый слой, в миллиметровом диапазоне длин волн. Сформулированы требования к основным параметрам многослойных структур, обеспечивающим повышение эффективности управления их отражательными характеристиками.
Ключові слова: комплексный коэффициент отражения, многослойная структура, полупроводник
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Карпенко В. И. Повышение эффективности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводник, в миллиметровом диапазоне длин волн / В.И. Карпенко, Г.А. Моисеева  // Системи обробки інформації. — 2008. — № 2. — С. 63-64.