1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 6(22)'2002
  5. О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения

О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения

Н.И. Коваленко, Г.В. Прохоров, А.К. Гнап
Системи обробки інформації. — 2002. — № 6(22). С. 18-24.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 62.37/39.019
Мова статті: російська
Анотації на мовах:


Анотація: Сравнивается влияние температурного воздействия с влиянием низких по-стоянных уровней высокоэнергетичного облучения на надежность компо-нент твердотельной электроники.


Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Коваленко Н.И., Прохоров Г.В., Гнап А.К. О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения. Системи обробки інформації. 2002. № 6(22). С. 18-24.

Whoops, looks like something went wrong.