1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 6(22)'2002
  5. О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения

О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения

Н. И. Коваленко, Г. В. Прохоров, А. К. Гнап
Системи обробки інформації. — 2002. — № 6(22). — С. 18-24.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 62.37/39.019
Мова статті: російська
Анотації на мовах:

Сравнивается влияние температурного воздействия с влиянием низких по-стоянных уровней высокоэнергетичного облучения на надежность компо-нент твердотельной электроники.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Коваленко Н. И. О параметрической надежности компонент твердотельной электроники при низких постоянных уровнях высокоэнергетического облучения / Н. И. Коваленко, Г. В. Прохоров, А. К. Гнап  // Системи обробки інформації. — 2002. — № 6. — С. 18-24.