1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 2(24)'2003
  5. Метод расчета характеристик рассеяния неидеально отражающего объекта с тонкой диэлектрической оболочкой

Метод расчета характеристик рассеяния неидеально отражающего объекта с тонкой диэлектрической оболочкой

В.А. Василец, А.З. Сазонов, О.И. Сухаревский, К.И. Ткачук
Системи обробки інформації. — 2003. — № 2(24). – С. 194-197.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621.396.96
Мова статті: російська
Анотації на мовах:

Предлагается метод расчета электромагнитного поля, рассеянного объектом, имеющим неидеально отражающую поверхность и окруженного тонкой диэлектрической диафрагмой. Основой метода является расчет поля, рассеянного неидеально отражающим объектом в дальней и ближней зонах рассеивателя, и оценке поправки, вносимой диэлектрической оболочкой в поле, рассеянное этим объектом в дальней зоне.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Василец В.А. Метод расчета характеристик рассеяния неидеально отражающего объекта с тонкой диэлектрической оболочкой / В.А. Василец, А.З. Сазонов, О.И. Сухаревский, К.И. Ткачук  // Системи обробки інформації. – 2003. – № 2(24). – С. 194-197.