1. Наука
  2. Видання
  3. Інформаційні системи
  4. 1(2)'1998
  5. Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем

Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем

А. К. Гнап, Н. И. Коваленко, К. С. Клименко
Інформаційні системи. — 1998. — № 1(2). — С. 32-42.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621. 315. 592
Мова статті: російська

Приведены результаты экспериментальных исследований влияния термо-электротренировки (ТЭТ) на устойчивость интегральных микросхем (ИМС), изготовленных по биполярной и МОП – технологиям.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Гнап А. К. Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем / А. К. Гнап, Н. И. Коваленко, К. С. Клименко  // Інформаційні системи. — 1998. — № 1. — С. 32-42.