1. Наука
  2. Видання
  3. Інформаційні системи
  4. 1(2)'1998
  5. Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем

Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем

А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко
Інформаційні системи. — 1998. — № 1(2). – С. 32-42.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621. 315. 592
Мова статті: російська

Приведены результаты экспериментальных исследований влияния термо-электротренировки (ТЭТ) на устойчивость интегральных микросхем (ИМС), изготовленных по биполярной и МОП – технологиям.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Гнап А.К. Влияние термо-электротренировки на надежность интегральных микросхем / А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко  // Інформаційні системи. – 1998. – № 1(2). – С. 32-42.