1. Наука
  2. Видання
  3. Інформаційні системи
  4. 2(3)'1998
  5. Метод повышения надежности транзисторных структур

Метод повышения надежности транзисторных структур

А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко
Інформаційні системи. — 1998. — № 2(3). – С. 112-119.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621. 315. 592
Мова статті: російська

Приведены теоретический анализ и экспериментальные исследования влияния термоэлектротренировки (ТЭТ) на устойчивость транзисторных структур.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Гнап А.К. Метод повышения надежности транзисторных структур / А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко  // Інформаційні системи. – 1998. – № 2(3). – С. 112-119.