Метод повышения надежности транзисторных структур
Інформаційні системи.
— 1998. — № 2(3). – С. 112-119.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621. 315. 592
Мова статті:
російська
Анотація: Приведены теоретический анализ и экспериментальные исследования влияния термоэлектротренировки (ТЭТ) на устойчивость транзисторных структур.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Гнап А. К. Метод повышения надежности транзисторных структур / А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко // Інформаційні системи. – 1998. – № 2(3). – С. 112-119.
Гнап А. К. Метод повышения надежности транзисторных структур / А.К. Гнап, Н.И. Коваленко, К.С. Клименко // Інформаційні системи. – 1998. – № 2(3). – С. 112-119.