Метод повышения надежности транзисторных структур
А.
К.
Гнап
,
Н.
И.
Коваленко
,
К.
С.
Клименко
Інформаційні системи.
— 1998. — № 2(3). — С. 112-119.
Тематика статті: Загальні питання
УДК 621. 315. 592
Мова статті:
російська
Приведены теоретический анализ и экспериментальные исследования влияния термоэлектротренировки (ТЭТ) на устойчивость транзисторных структур.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Гнап А. К. Метод повышения надежности транзисторных структур / А. К. Гнап , Н. И. Коваленко , К. С. Клименко // Інформаційні системи. — 1998. — № 2. — С. 112-119.
Гнап А. К. Метод повышения надежности транзисторных структур / А. К. Гнап , Н. И. Коваленко , К. С. Клименко // Інформаційні системи. — 1998. — № 2. — С. 112-119.