Анотація: В статті наведений опис методик параметричної оптимізації однобічних і двосторонніх підналадочних систем активного контролю. Приведені результати імітаційного моделювання роботи слідкуючих та дискретних підналадочних систем активного контролю для машинобудівного виробництва. Наведені висновки щодо структури та режимів функціонування системи активного контролю в залежності від точності технологічного процесу виробництва. За результатами імітаційного моделювання пропонується використання критерію створення найбільших резервів технологічної точності.