1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 9(58)'2006
  5. Анализ возможности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводники, в миллиметровом диапазоне длин волн

Анализ возможности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводники, в миллиметровом диапазоне длин волн

Г.А. Моисеева
Системи обробки інформації. — 2006. — № 9(58). – С. 62-65.
УДК 621.373 (043.3)
Мова статті: російська
Анотації на мовах:

Проведен анализ многослойной структуры, содержащей один или несколько полупроводниковых слоёв. Получены основные математические соотношения, позволяющие предъявить требования к основным параметрам многослойных структур, обеспечивающим управление их отражательными характеристиками.
Інформація про авторів публікації:
Бібліографічний опис для цитування:
Моисеева Г.А. Анализ возможности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводники, в миллиметровом диапазоне длин волн / Г.А. Моисеева  // Системи обробки інформації. – 2006. – № 9(58). – С. 62-65.