1. Наука
  2. Видання
  3. Системи обробки інформації
  4. 9(58)'2006
  5. Аналіз можливості керування комплексним коефіцієнтом відображення багатошарової структури, що містить напівпровідники, у міліметровому діапазоні довжин хвиль

Аналіз можливості керування комплексним коефіцієнтом відображення багатошарової структури, що містить напівпровідники, у міліметровому діапазоні довжин хвиль

Г.О. Моісеєва
Анотації на мовах:

Проведено аналіз багатошарової структури, що містить один або кілька напівпровідникових шарів. Отримано основні математичні співвідношення, що дозволяють висунути вимоги до основних параметрів багатошарових структур, що забезпечують керування їх відбивними характеристиками.