Анотація: В роботі визначено загальний підхід до побудови функціональних перевірних тестів для безконтактного індукційного методу діагностування радіоелектронних компонентів. В якості радіоелектронних компонентів розглянуто цифрові елементи пам’яті та мікроконтролер.